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美國GE探傷儀直探頭B0.5SL
詳細信息| 詢價留言品牌：美國GE 型號：B0.SL 加工定制：否 用途：探傷儀測厚儀探頭 是否進口：是 產地：美國 美國GE探傷儀直探頭B0.5SL
美國GE探傷儀直探頭 主要應用領域 通常：用于容積形或者平行于表面的缺陷的探測和評估。可互換的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面 也達到盡可能好的耦合，并防止探頭受損。
特性：在粗糙表面上具有穩定的耦合性
注釋：
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
O= 提供探頭數據表
O= 提供DGS標尺
關于表中數據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。帶可更換保護膜的直探頭 主要特性：
·單晶探頭實現聲波的發射和接收
·縱波垂直傳輸
·即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上，由于柔性的抗磨損保護膜而具有穩定的耦合特性
·如果及時地更換保護膜，則探頭的磨損可以達到*小
·特殊的粗晶探頭，在測試高衰減材料時，利用短脈沖可以達到高信噪比
·由于采用印模壓鑄成型，因此實際形狀具有很高的穩定性
通常：用于容器或者平行于表面的缺陷探測和評估。可更換的抗磨損的保護膜可以使得探頭在粗糙或輕微彎曲的表面也達到*好耦合，并防止探頭磨損。類型[訂購號碼] D [mm] f [MHz] AB [mm] N [mm] EB [mm] 聲束形狀編號 B0.5SL
B1SL
B2SL34
34
300.5
1
2175-480
80-1600
40-310023
46
7110
8
50.5-34
1-34
2-30B1S
B2S
B4S
B5S24
24
24
241
2
4
570-1200
23-3000
15-3000
15-600023
45
88
1106
5
3
31-24
2-24
4-24
5-24MB2S
MB4S
MB5S10
10
102
4
530-800
15-1500
10-20008
16
204
3
32-10
4-10
5-10K0.5S
K1S
K0.5SM
K1SM34
34
28
280.5
1
0.5
1100-250
50-1350
80-145
40-78023
46
15
3110
6
8
60.5-34
1-34
0.5-28
1-28
美國GE超聲波探頭
主要特性：
•單晶探頭用于超聲脈沖的發射和接收
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外）
•牢固的金屬盒
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果
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