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美國GE水密封體直探頭L2N

主要用途：
通常：通過一個水延遲通道，以可能*好的測試結果復現(xiàn)性，實現(xiàn)流水線或大批量生產零件的小缺陷和*小缺陷以及有缺陷材料組織的半自動和全自動測試。

特性：極好的分辨率和非常好的缺陷探測性
注釋：                      
粗體=首選探頭，帶簡短注釋說明
= 提供探頭數(shù)據表
= 提供DGS標尺
關于表中數(shù)據的解釋，見第4頁中選擇標準。
關于聲束形狀見第37頁中聲束形狀編號。

類型 [訂購號碼]	D [mm]	f [MHz]	AB [mm]	N F [mm] /	近場分辨率1) [mm]	聲束形狀 編號	備注	草圖
缺陷探測的高分辨率探頭，UHF插座，特性帶寬：80%
IA5.8 IAP5.12.6 IAP10.6.3 IAP15.6.2	12.7 19 9.5 9.5	5 5 10 15	60-190 115-225 55-130 40-65	130 150 75 50	ZYB 0.5Ø in 3 ZYB 0.5Ø in 1.5 FBB 0.4Ø in 1.3 FBB 0.4Ø in 1.0	5-12.7 - - -	點聚焦 點聚焦 點聚焦	類型39 類型40 類型39 類型39
帶固定電纜的沖擊波探頭，特性帶寬：100%
H1N H2N	20 20	1 2	28-156 50-267	64 127	FBB 5Ø in19 FBB 2Ø in13	1-20 2-20		類型36
H2K H5K H10K	10	2 5 10	14-77 34-190 68-380	32 80 160	FBB 2Ø in6.5 FBB 2Ø in4 FBB 2Ø in2	2-10 5-10 10-10		類型37
H5M H10M H10MP15 H10ML15	5	5 10 10 10	8-52 16-104 10-23 10-23	20 40 15 15	FBB 2Ø in3 FBB 2Ø in1.5 FBB 2Ø in1.5 FBB 2Ø in1.5	5-5 10-5 - -	點聚焦 線聚焦	類型38
帶固定電纜的寬帶探頭，特性帶寬：80%
L1N L2N L2K L4K L5K L5M	20 20 10 10 10 5	1 2 2 4 5 5	28-156 50-264 14-77 28-154 34-190 8-52	63 127 32 64 80 20	FBB 2Ø in24 FBB 2Ø in12 FBB 2Ø in6 FBB 2Ø in5 FBB 2Ø in3.5 FBB 2Ø in2.5	1-20 2-20 2-10 4-10 5-10 5-5		類型36 類型36 類型37 類型38

所有探頭都有點聚焦或線聚焦形式（請注明焦距）。其它設計根據要求確定。
1) 注意第5

附件描述	類型	備注
探頭電纜（2米） H..K進行接觸測試 的延遲線 耦合帽	PKI2 承索	用于IA..和IAP.. 承索 對于干耦合見36頁

美國GE超聲波探頭 
主要特性： 
•單晶探頭用于超聲脈沖的發(fā)射和接收 
•通過水延遲通道進行縱波或橫波的垂直或斜向掃描（非接觸測試）
•完全不漏水的版本設計，或者帶有固定的連接電纜，或者帶有水密封的連接插座（除Microdot外） 
•牢固的金屬盒 
•用通常采用的線聚焦和點聚焦方式增加了缺陷識別的能力 
•使用具有較高頻率的聚合物探頭，從而對非常小的非均勻性具有非常高的探測能力。
 
探頭分為兩大類：接觸式和水浸式
接觸法探頭
直探頭---單晶
·被檢測件有規(guī)則外形和相對光滑的接觸表面
·接觸面或平或曲
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·適于穿透厚部件
·延遲塊用以提高近場分辨率
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
直探頭--雙晶
·接受發(fā)射單元用串擾擋板分開
·缺陷或背反射平行于表面，可被垂直于表面的聲束探測
·近表面分辨率好，用于較薄部件
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·通常用于手動檢測
斜探頭
·晶片安裝在內置的或者可更換的斜塊上
·利用折射讓縱波或者橫波沿確定角度傳播
·大多數(shù)標準探頭通過模式轉換產生橫波
·適于傾斜缺陷的檢測，如焊縫
·有單晶探頭和雙晶探頭
·需要耦合層，一般為凝膠，油類，漿糊
·有時用于機械化或自動化檢測
水浸法探頭
水浸探頭
·在水中匹配好，效率高
·適于具有不規(guī)則表面的被檢測件
·通常用于機械化或者自動化檢測
·耦合一致性好，檢測重復性高
·大型零件可以采用探頭架，溢流法或者水射流法
·探頭聚焦可以增進效果