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英國(guó)Sonatest 相控陣探傷儀VEO3
| 產(chǎn)品型號(hào)： |
VEO3 |
| 品 牌： |
英國(guó)Sonatest |
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| 所 在 地： |
廣東深圳 |
| 更新日期： |
2025-04-04 |
| | 品牌：英國(guó)Sonatest | | 型號(hào)：VEO3 | | 加工定制：是 | |
| | 類型：超聲波 | | 測(cè)量范圍：根據(jù)選配探頭 | | 分辨率：根據(jù)選配探頭 | |
| | 尺寸：115 x 220 x 225 mm | | 重量：5.1 kg | | 分辨率：根據(jù)選配探頭 | |
英國(guó)Sonatest超聲波相控陣探傷儀 VEO3
高效，源于品質(zhì)，自信，源于英國(guó)！
簡(jiǎn)潔 高效 可靠
關(guān)注您的需要
Veo3具有幫助您解決具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用所需的全部靈活性。 其獨(dú)特的體系結(jié)構(gòu)*多可
以生成六個(gè)實(shí)時(shí)TFM掃描，這些掃描是從不同探頭上的多個(gè)FMC來(lái)源生成的。 這使*
終用戶可以將精力集中在重要的地方，從而解決*困難的檢測(cè)。
2010年，Sonatest推出了首款相控陣儀器，機(jī)載掃描計(jì)劃功能以及帶有聲束顯示的3D立體圖形 。
2016年推出Veo+。聲納引入了遠(yuǎn)程軟件概念。 借助Sonatest XPair軟件包，Sonatest開(kāi)創(chuàng)了真正的實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程操作讓操作人員可以在全球任何一個(gè)地方完全控制儀器并共享Veo+屏幕。Sonatest還是提供相控陣曲面修正技術(shù)的公司，使長(zhǎng)焊縫的檢測(cè)比以往任何時(shí)候都更加真實(shí)，快速和輕松。
Veo3 配備*先進(jìn)的PCAP觸摸屏，堅(jiān)固的多點(diǎn)觸控屏幕組件具有智能算法，可有效地區(qū)分耦合劑和手指觸碰，避免誤操作。現(xiàn)在傳用戶可體驗(yàn)更為出色的用戶界面。但真正使Veo3脫穎而出的是其獨(dú)特的實(shí)時(shí)多掃描/多技術(shù)功能。現(xiàn)在可以同時(shí)進(jìn)行TFM，PA和TOFD視圖。
多重技術(shù)優(yōu)勢(shì) - 讓操作人員對(duì)超聲檢測(cè)信心百倍
盡管TFM現(xiàn)在已成為一種普遍的檢測(cè)方法，但針對(duì)應(yīng)用正確配置和選擇*合適的TFM傳播模式仍然具有很大挑戰(zhàn)性。 比較不同傳播模式既令人沮喪又耗時(shí)。 現(xiàn)在檢測(cè)人員使用Veo3，能夠同時(shí)顯示PA和多個(gè)實(shí)時(shí)TFM掃描，比以往任何時(shí)候都更容易識(shí)別缺陷和提高檢
出率。 并增加了技術(shù)人員的信心。
Veo3 中容許在PA和TFM實(shí)時(shí)掃描中添加TOFD掃描。同時(shí)使用三種互補(bǔ)檢查技術(shù), 使操作人員更有信心地進(jìn)行檢測(cè)。
無(wú)需額外資質(zhì)
Veo3的多種技術(shù)功能將相控陣與TFM結(jié)合，使用戶可以從TFM提供更高的分辨率和定量性能中受益–在對(duì)已經(jīng)批準(zhǔn)的相控陣程序進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，無(wú)需更改。 無(wú)需進(jìn)行新的審批流程。
單次掃描較厚的零件
Veo3可以生成多達(dá)500K像素的TFM圖像，*大分辨率為每毫米100像素，而不會(huì)限制每個(gè)軸的像素?cái)?shù)。 在TFM圖像上結(jié)合經(jīng)過(guò)時(shí)間校正的增益 (TCG)，技術(shù)人員能夠以更高的靈活性檢測(cè)較厚的零件，同時(shí)保持符合ASME的要求。 只需一次掃描即可完成所有操作。 Veo3具有解決日常挑戰(zhàn)的功能。
在困難的應(yīng)用當(dāng)中，從未如此輕松的獲得缺陷特征和評(píng)估結(jié)果。
全矩陣捕獲和分析
全矩陣捕獲（FMC）掃描期間收到的所有數(shù)據(jù)都可以記錄在Veo3上。 因此可以執(zhí)行進(jìn)一步的詳細(xì)分析，包括與先前的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，以識(shí)別趨勢(shì)和缺陷/腐蝕增長(zhǎng)率。
Sonatest UTStudio+ 軟件包具有廣泛的功能來(lái)協(xié)助檢測(cè)人員/專家，或者可以將數(shù)據(jù)導(dǎo)出以使用其它算法來(lái)進(jìn)行分析。 同樣，Sonatest提供的工具不僅限于基本檢測(cè)。
英國(guó)Sonatest超聲波相控陣探傷儀 VEO3
機(jī)載實(shí)時(shí)TFM | 觸摸屏 | Linux
技術(shù)參數(shù) （技術(shù)參數(shù)如有更改，恕不另行通知）
通用指標(biāo) 相控陣（32:128 PR） UT-TOFD (2PR) 實(shí)時(shí)全聚焦 (TFM)
多重掃描 高達(dá) 8 組掃描 高達(dá) 2 組掃描（UT&TOFD） 高達(dá) 6 組掃描
脈沖發(fā)生器/接收器 32:128PR 2 個(gè)通道（4 個(gè)接口） 高達(dá)64個(gè)晶片探頭
增益范圍 80dB 100dB 80dB
采樣頻率 125 MHz @ 12-位 50/100/200 MHz @ 10-位 125MHz @ 12 位（16 位進(jìn)程）
系統(tǒng)帶寬 0.2 to 23 MHz 0.2 to 18 MHz 0.2 to 23 MHz
*大脈沖重復(fù)頻率 50,000 Hz 20,000 Hz 50,000 Hz
脈沖電壓 100-50V ActiveEdge© 400-100V ActiveEdge© 100-50V ActiveEdge©
聚焦模式 恒定深度、恒定聲程、恒定偏移量 無(wú) 全聚焦成像技術(shù) (TFM)
S 掃描分辨率 高達(dá) 0.1° 無(wú) *小至0.01mm
L 掃描分辨率 *小1個(gè)陣元或雙倍分辨率 無(wú) *小至0.01mm
*大相控陣波束 可達(dá) 1024 無(wú) 高達(dá)500,000像素
(聚焦法則數(shù)量）
測(cè)量工具 提取框、4 個(gè)閘門(mén)/A 掃描， TCG,DGS,Split-DAC
4 個(gè)閘門(mén)/A 掃描，TCG,DGS/Split-DGS,DAC/Split-DAC
10 TFM 演算法 , 提取框, 4 個(gè)閘門(mén)，聲速，TCG，振幅保真，*多20個(gè)光標(biāo)/視圖
機(jī)載掃描計(jì)劃工具 3D 機(jī)載掃描 操作時(shí)間 6 小時(shí)（電池支持熱插拔）
機(jī)載生成報(bào)告工具
輸入電源 AC 110V/240V @ 50 Hz/60 Hz
機(jī)載PDF 閱讀器 能夠載入并讀取所有 PDF 文件 機(jī)載幫助
尺寸 115 x 220 x 225 mm (4.52 x 8.6)
重量 5.1 kg (不含電池，電池 460g/塊）
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) ISO18563 (EN16392) & EN12668 防護(hù)等級(jí) IP66
簡(jiǎn)潔 高效 可靠
標(biāo)準(zhǔn)套
Veo3 16:64PR BNC
Veo3 16:64PR LEMO
Veo3 32:64PR BNC
Veo3 32:64PR LEMO
Veo3 16:128PR BNC
Veo3 16:128PR BNC
Veo3 32:128PR LEMO
Veo3 32:128PR LEMO
軟件和可選功能
LIVE TFM
FMC-TFM
CSV Export
Upgrade PA 32PR Upgrade
PA 128 channels PA Curved
Surface Correction XPAIR -
Cloud Remote Access
附件
32:32 Y-Splitter I-PEX
64:64 Y-Splitter I-PEX
Phased Array Probes
TOFD & UT Probes
Wedge
Encoders
滾輪探頭
